測厚儀的測試原理和使用注意事項
更新時間：2023-02-16 點擊次數(shù)：1011次
測厚儀適用于各種薄膜、復合膜、紙張、金屬箔片、硬片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度準確測量，分辨率達0.1um，廣泛應用于薄膜、鋁箔生產(chǎn)企業(yè)、質(zhì)檢機構等單位。
測試原理
測厚儀采用接觸式測試原理，截取一定尺寸試樣，測厚儀測量頭自動降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測試出試樣的厚度值。
測厚儀的使用注意事項：
1、在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
2、在測量的時候要注意，側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
3、在進行測試的時候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
4、在測量的時候要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
5、測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
6、測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
7、在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。
8、在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
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